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推薦產(chǎn)品
  • Alpha-Step臺階儀
    Alpha-Step臺階儀

    Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...

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  • 三維光學(xué)輪廓儀
    三維光學(xué)輪廓儀

    非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時(shí)避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時(shí)采集高分...

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  • 經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀 可測樣
    經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀 可測樣

    Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器可測樣。

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  • 光學(xué)表面缺陷分析儀
    光學(xué)表面缺陷分析儀

    Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對玻璃、半導體及光電子材料進(jìn)行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測，其...

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  • TEM氮化硅薄膜窗口
    TEM氮化硅薄膜窗口

    與X射線(xiàn)用氮化硅窗口類(lèi)似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規格。同時(shí)SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...

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  • 納米壓印膠
    納米壓印膠

    公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學(xué)藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...

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  • 全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
    全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

    P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺式系統的測量性能和經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合。 這樣的組合為機械傳送臂系統提供了低成本，適...

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  • 晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
    晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

    P-7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性?xún)r(jià)比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進(jìn)行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無(wú)需圖像拼接...

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  • 高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
    高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）

    高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）采用*制造工藝，可把平面納米壓印拓展到任意曲面。標準模板分為三類(lèi)：Quartz Molds, Silicon M...

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  • 氮化硅薄膜窗格
    氮化硅薄膜窗格

    SHNTI的X-射線(xiàn)薄膜窗能夠實(shí)現軟X-射線(xiàn)(如真空紫外線(xiàn))的Z大透射率。主要用于同步輻射X射線(xiàn)透射顯微成像時(shí)承載樣品。 X-射線(xiàn)越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀...

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  • Imprint Nano納米壓印
    Imprint Nano納米壓印

    納米壓印的技術(shù)與工藝特點(diǎn)，*性地設計和制備工作于低真空環(huán)境下，結合正負壓可控調節并利用壓縮空氣作為壓印驅動(dòng)力的，通過(guò)壓力傳導裝置、緩沖與勻壓、壓力調節控制裝置等手段實(shí)現平穩可靠可控的壓印過(guò)程，借助于多...

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  • 俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
    俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力

    俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力驅近系統的機械設計可使得經(jīng)過(guò)幾次驅近之后仍然能獲得相同的檢測區域。掃描位移大約為500nm，這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內仍然能夠研究相同的樣品區域。

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產(chǎn)品展示
  • 原位拉伸臺
    原位拉伸臺

    為了滿(mǎn)足現代材料研究的挑戰，Swift開(kāi)發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀(guān)測系統，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實(shí)現...

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  • Alpha-Step臺階儀
    Alpha-Step臺階儀

    Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...

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  • 三維光學(xué)輪廓儀
    三維光學(xué)輪廓儀

    非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時(shí)避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時(shí)采集高分...

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  • 經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀 可測樣
    經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀 可測樣

    Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器可測樣。

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  • 高精度臺式納米壓痕儀
    高精度臺式納米壓痕儀

    iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶(hù)友好的納米機械測量系統，設計用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統旨在進(jìn)行準確，可重復的納米級機械測試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級測試。iNano具有很...

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  • 光學(xué)表面缺陷分析儀
    光學(xué)表面缺陷分析儀

    Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對玻璃、半導體及光電子材料進(jìn)行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測，其...

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  • 方阻測試儀
    方阻測試儀

    Filmetrics R50 是KLA電阻測試家族的最新產(chǎn)品。R50方阻測試儀是KLA超45年電阻測量技術(shù)地位之作。電阻測量和監控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔...

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  • 高精度原子力顯微鏡
    高精度原子力顯微鏡

    高精度原子力顯微鏡 ParkNX10為您帶來(lái)納米級分辨率的數據，值得您信賴(lài)、使用和擁有。 在SmartScanAuto有的智能模式下，系統自動(dòng)執行所有必要的成像操作，同時(shí)智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描...

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  • 原位納米力學(xué)測試系統
    原位納米力學(xué)測試系統

    Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測試系統是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個(gè)數量級的形變測量。 可測量聚合...

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  • 表面等離子共振顯微鏡
    表面等離子共振顯微鏡

    SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是世界上1st臺將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結合為一體的生物傳感檢測儀。

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  • TEM氮化硅薄膜窗口
    TEM氮化硅薄膜窗口

    與X射線(xiàn)用氮化硅窗口類(lèi)似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規格。同時(shí)SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...

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  • 納米壓印膠
    納米壓印膠

    公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學(xué)藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...

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  • 陣列式壓力傳感系統
    陣列式壓力傳感系統

    陣列式壓力傳感系統通過(guò)由前端柔性陣列式微機電壓力感測器及后端軟件界面組成，前端傳感器依所承受壓力呈現線(xiàn)性反應變化，壓力越大則電導越高，再由后端軟件將接觸面壓力分布實(shí)時(shí)呈現并記錄，協(xié)助設備進(jìn)行有效調整校...

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  • 碳化硅SiC長(cháng)晶設備
    碳化硅SiC長(cháng)晶設備

    碳化硅SiC長(cháng)晶設備是實(shí)現高質(zhì)量SiC晶體生長(cháng)、高純度原料合成、高溫晶體熱處理的專(zhuān)業(yè)設備。廣泛應用于SiC晶體生長(cháng)、原料合成、晶體熱處理領(lǐng)域?？梢陨L(cháng)6/8英寸的晶錠。

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  • MPCVD金剛石長(cháng)晶設備
    MPCVD金剛石長(cháng)晶設備

    MPCVD金剛石長(cháng)晶設備Intelligent MPCVD Dimond Growth System (IMD)系列金剛石晶體生長(cháng)系統，是實(shí)現高質(zhì)量金剛石晶體生長(cháng)、高純度晶體薄膜沉積、高溫晶體熱處理的...

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  • Desk V 鍍膜機
    Desk V 鍍膜機

    Desk V 鍍膜機使用一個(gè)2英寸的陰極進(jìn)行濺射，由一個(gè)最大輸出為100毫安的直流電源驅動(dòng)。使用傾斜/旋轉臺來(lái)實(shí)現好的樣品覆蓋，特別是在粗糙的表面。Desk V還可以在沉積前用蝕刻臺和快門(mén)對樣品進(jìn)行預...

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  • 全自動(dòng)步進(jìn)重復式激光干涉光刻機
    全自動(dòng)步進(jìn)重復式激光干涉光刻機

    全自動(dòng)步進(jìn)重復式激光干涉光刻機VIL 1000納米光刻系統具有全自動(dòng)光路重構、動(dòng)態(tài)鎖相、高精度步進(jìn)重復曝光等強大功 能。在放置旋涂好光刻膠的 晶圓后，無(wú)需任何手動(dòng)設置或調整，我們的自動(dòng)化系統可以在2 ...

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  • 激光干涉光刻機
    激光干涉光刻機

    激光干涉光刻機----HIL系列激光干涉納米光刻機具有突破性的強大功能，只需要單次曝光即可在幾分鐘內制備大面積周期性納米結構。其最小特征尺寸可以低于50納米。該系統是制作高品質(zhì)、晶圓級的納米壓印模板和...

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  • 低溫強磁場(chǎng)共聚焦樣品桿
    低溫強磁場(chǎng)共聚焦樣品桿

    低溫強磁場(chǎng)共聚焦樣品桿物性表征-低溫光學(xué)?低溫強磁場(chǎng)環(huán)境下的共聚焦拉曼、熒光、MOKE、掃描成像測試

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  • 低振動(dòng)光學(xué)型恒溫器
    低振動(dòng)光學(xué)型恒溫器

    低振動(dòng)光學(xué)型恒溫器。超低振動(dòng)， 低溫拉曼、 熒光、 紅外、 太赫茲、 MOKE及低溫物性測試

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上海納騰儀器有限公司
上海納騰儀器有限公司是從事掃描探針顯微鏡(SPM)銷(xiāo)售的專(zhuān)業(yè)公司。公司作為俄羅斯NT-MDT在中國大陸及港、澳地區的經(jīng)銷(xiāo)商(RESELLER)，在掃描探針顯微鏡(SPM)領(lǐng)域有多年的實(shí)踐經(jīng)驗，擁有一支成熟的銷(xiāo)售、技術(shù)團隊，迄今已累計銷(xiāo)售超過(guò)100臺(套)儀器。
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  • 高精度原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope，AFM)是一種使用原子力來(lái)實(shí)現納米級物體表面形貌和物理性質(zhì)表征的先進(jìn)儀器。它在納米科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域中扮演著(zhù)至關(guān)重要的角色。高精度原子力顯微鏡的原理基于掃描探針和物體表面之間的相互作用。它使用了一根非常細的金屬探針，通過(guò)控制探針對樣品表面的接觸力來(lái)感測樣品表面的形貌和性質(zhì)。探針在樣品表面掃描時(shí)，探針的運動(dòng)受到樣品表面的拓撲結構和力場(chǎng)的影響，這些信息被轉化為電信號，最終形成二維或三維的樣品表面形貌圖像。與傳統顯微鏡...
    2024-1-12
  • 高精度輪廓儀是一種用于測量物體輪廓的精密儀器。它可以用于工業(yè)生產(chǎn)、制造、質(zhì)量控制等領(lǐng)域，能夠提供對物體輪廓的準確測量和分析數據。下面將介紹高精度輪廓儀的使用方法。首先，打開(kāi)高精度輪廓儀的電源并等待儀器啟動(dòng)。儀器會(huì )進(jìn)行自動(dòng)校準和參數設置，確保測量結果的準確性。接下來(lái)，將待測物體放置在輪廓儀的測量臺上。要保證物體固定穩定，以免在測量過(guò)程中產(chǎn)生誤差。根據需要，可以使用夾具或者其他支撐工具來(lái)固定物體。然后，通過(guò)調整儀器的參數和設置，選擇合適的測量模式。高精度輪廓儀通常具有多種測量模式...
    2023-12-12
  • 高精度輪廓儀是一種用于測量和繪制物體輪廓的裝置，它能夠以高精度和高速度獲取物體的外形信息。這種儀器常用于工程設計、制造、品質(zhì)控制和科學(xué)研究等領(lǐng)域。高精度輪廓儀通常由一個(gè)激光測距儀和一個(gè)移動(dòng)平臺組成。激光測距儀通過(guò)發(fā)射激光束并接收返回的激光信號，可以精確地測量物體的距離。移動(dòng)平臺則用于控制激光測距儀在水平和垂直方向上的移動(dòng)，從而實(shí)現對物體輪廓的全面掃描。在測量過(guò)程中，高精度輪廓儀會(huì )將物體的輪廓點(diǎn)云數據采集下來(lái)，并通過(guò)特定的算法進(jìn)行處理和分析。這些算法可以將點(diǎn)云數據轉化為三維模型...
    2023-11-10
  • 圓探針式臺階儀是一種用于測量臺階高度和曲率的儀器。它的原理是利用一個(gè)圓形探針在臺階表面上運動(dòng)，并通過(guò)測量探針的垂直位移來(lái)計算出臺階的高度和曲率。圓探針式臺階儀在土木工程、建筑設計和地形測量等領(lǐng)域有著(zhù)廣泛的應用。圓探針式臺階儀由一個(gè)探針和一個(gè)傳感器組成。探針是一個(gè)圓形的剛性圓柱體，其底部連接到一個(gè)測量裝置上。傳感器安裝在儀器的固定部分上，用來(lái)測量探針的垂直位移。在實(shí)際測量中，儀器被放置在需要測量的臺階表面上。通過(guò)手柄控制探針的運動(dòng)，使其在臺階表面上移動(dòng)。同時(shí)，傳感器會(huì )測量探針的...
    2023-10-16
  • 晶圓探針式輪廓儀(WaferProber)是一種用于測試和測量半導體晶圓上器件輪廓和尺寸的儀器。該儀器通常由機械平臺、探針卡盤(pán)、探測控制系統等部分組成。晶圓探針式輪廓儀的工作原理是通過(guò)將晶圓置于機械平臺上，利用探針卡盤(pán)上的探針觸點(diǎn)對晶圓進(jìn)行探測和測量。探針觸點(diǎn)通過(guò)機械運動(dòng)精確地接觸晶圓表面，并測量其表面的高度和形狀變化。通過(guò)控制探針卡盤(pán)的移動(dòng)，該儀器可以對晶圓表面的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行連續的測量，從而還原出器件在晶圓上的輪廓和尺寸信息。晶圓探針式輪廓儀的主要應用領(lǐng)域是半導體工業(yè)中的研發(fā)...
    2023-9-7
  • 臺式納米壓痕儀是一種先進(jìn)的實(shí)驗儀器，用于測量材料的力學(xué)性能，特別是材料的硬度和彈性模量。它具有以下幾個(gè)特點(diǎn)：1.精準測量：臺式納米壓痕儀采用高精度的傳感器和控制系統，可以實(shí)現對材料力學(xué)性能的精確測量。它能夠測量材料的硬度、壓痕深度和壓痕尺寸等參數，提供準確的數據分析。2.高效操作：臺式納米壓痕儀操作簡(jiǎn)單，用戶(hù)可以通過(guò)觸摸屏或計算機界面進(jìn)行參數設置和實(shí)驗控制。儀器配備了自動(dòng)探針識別和調節系統，可以快速準確地選擇合適的探針和設置合適的實(shí)驗條件，提高工作效率。3.多功能性：除了常規...
    2023-8-7
  • 臺式納米壓痕儀是一種先進(jìn)的材料表面力學(xué)性能測試儀器。它采用納米級壓痕技術(shù)，能夠在微小的尺度上對材料的硬度、彈性模量和塑性變形進(jìn)行精確測量。這種儀器在材料科學(xué)、納米技術(shù)和工程領(lǐng)域具有廣泛的應用前景。該儀器由壓頭、壓頭支架、移動(dòng)平臺和傳感器組成。壓頭是用于加載樣品的部件，其帶有一顆微小的硬度鉆石，可以在納米級尺度下進(jìn)行壓痕測試。壓頭支架用于支撐和固定壓頭，保證測試的穩定和準確性。移動(dòng)平臺是控制壓頭的升降和水平移動(dòng)的部件，通過(guò)精確的運動(dòng)控制，能夠對樣品進(jìn)行準確的定位和測試。傳感器則...
    2023-7-5
  • 離子束沉積系統(IonBeamDepositionSystem)是利用離子束轟擊固體表面，通過(guò)化學(xué)反應或物理作用使材料原子聚積在基片表面形成薄膜的一種薄膜制備技術(shù)。以下是離子束沉積系統的使用方法：1.準備工作首先需要準備好需要沉積的基片和目標材料。將基片清洗干凈，并去除表面的污垢和雜質(zhì)。目標材料則需要切割成合適大小并進(jìn)行打磨處理。2.裝載基片和目標材料將準備好的基片放入樣品架中，并通過(guò)真空泵將其置于所需的低壓環(huán)境中。然后將目標材料放置于離子源旁邊的樣品架上。3.啟動(dòng)系統啟動(dòng)系...
    2023-6-6
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